Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准。
适用范围:
适(shi)用于(yu)各种(zhong)封装形(xing)式的射频(pin)场效应管、射频(pin)功率器(qi)件进(jin)行高温反向试验。
技术(shu)特点:
每颗器件的Vgs独(du)立控制。
实时监测每个试(shi)验器件的Id、Ig。
控制上、下电时序。
全过程(cheng)试验数据保存(cun)于硬盘(pan)中，可输出Excel试验报表和(he)绘(hui)制全过程(cheng)漏电流IR变化曲线。
