Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标(biao)准。
适(shi)用(yong)范围(wei):
适(shi)用(yong)于各种封装形式的射频场效应管、射频功率(lv)器件进
行温湿(shi)度下反偏(pian)试验 。
技术特点:
每颗器(qi)件的Vgs独立控制。
实时监测每个试验器件的Id、Ig。
控制上、下电时序。
全(quan)过(guo)程试验(yan)数据(ju)保(bao)存于硬盘中，可(ke)输(shu)出(chu)Excel
试验报表和(he)绘(hui)制全过程漏(lou)电流IR变(bian)化曲线。
