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杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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IGBT模块功率循环老化测试系统

符合标准:

IEC60749 、AQG324 等试验标准。

适用范围:

适用于各种封(feng)装形(xing)式(shi)的大功率(lv)(lv)IGBT模块、二极管模块的功率(lv)(lv)循环试验。

技术特点:

严格满足(zu)△Tj≥100℃。 

可实现秒级和分钟级循环试验。

检测显示(shi)每次循环的△Tj。


技术性能

表格 p32.png

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