Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准。
适用范围:
适用于各种封(feng)装形式的射频场效应(ying)管、射频功(gong)率(lv)器(qi)件进
行温湿度下反偏试验 。
技术特点:
每颗器件的Vgs独立(li)控制(zhi)。
实时监(jian)测每个(ge)试验器(qi)件的Id、Ig。
控制上、下电时序。
全过(guo)程试验数据保存于(yu)硬盘中，可输出Excel
试验报表和(he)绘制(zhi)全过程漏电流IR变化曲线。
