Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标(biao)准(zhun)。
适用范围:
适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件(jian)进行高(gao)温(wen)反向试验。
技术特点:
每(mei)颗器件的(de)Vgs独(du)立控制。
实时监测每个试验器(qi)件的Id、Ig。
控制上、下电时序。
全过程试验数据保(bao)存(cun)于硬盘中，可输(shu)出Excel试验报表和绘制全过程漏电流IR变(bian)化曲线。
