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杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

Product Demonstration

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IGBT模块高温高湿反偏老化测试系统(H3TRB)

符合标准:

IEC60749、IEC60747、AQG324、AEC-Q101等标(biao)准。

适用范围:

适用于各种封装形式(shi)的IGBT模块(kuai)、二极管(guan)模块(kuai)、整流桥模块(kuai)、晶闸管(guan)模块(kuai)进行高温高湿反偏(pian)试验(H3TRB)。

技术特点:

可实现自动(dong)上、下桥(qiao)臂切(qie)换测试。

每个回(hui)路漏电流超(chao)上限电子开关断电保护。

实时监测每个试验器件的漏电流。

全过(guo)(guo)程试(shi)验数(shu)据保存于硬盘(pan)中,可输出Excel试(shi)验报(bao)表和绘制全过(guo)(guo)程漏电(dian)流(liu)IR变化曲线(xian)。


技术性能

表格 p24.png

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