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杭州高裕电子科技股份有限公司

产品展示

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IGBT模块高温反偏老化测试系统(独立加热板温控、电子开关保护)

符合标准:

IEC60749、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、JEDEC等标准。

适用范围:

适用于(yu)各种封(feng)装形(xing)式的IGBT模块(kuai)、二(er)极管(guan)模块(kuai)、整流桥模块(kuai)、晶闸(zha)管(guan)模块(kuai)进(jin)行高温反偏试(shi)验(HTRB)。

技术特点:

每个模(mo)块加热板(ban)独立(li)加热,可独立(li)控制每个模(mo)块的结(jie)温Tj。

实时监测每个试验(yan)器(qi)件的漏电流。

每(mei)个回路漏电流(liu)超上限电子开(kai)关(guan)断电保护。

全过(guo)(guo)程(cheng)试验(yan)(yan)数据保存于硬盘中(zhong),可输出(chu)Excel试验(yan)(yan)报表和绘制全过(guo)(guo)程(cheng)漏电流IR变化曲线。


技术性能

表格 p22.png

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