Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准(zhun)。
适用范围:
适用于各种封装形式的场效应管、IGBT单管等(deng)器件(jian)进行高温(wen)栅极反偏试验。
技术特点:
实时监测每个试验器件的漏(lou)电流，漏(lou)电流最小(xiao)监控值1nA。
全过程试验数据保存于硬盘中(zhong)，可输出Excel试验报(bao)表和绘制全过程漏电流IR变化曲线。
<tr id='b2xvc'><strong id='b2xvc'></strong><small id='b2xvc'></small><button id='b2xvc'></button><li id='b2xvc'><noscript id='b2xvc'><big id='b2xvc'></big><dt id='b2xvc'></dt></noscript></li></tr><ol id='b2xvc'><option id='b2xvc'><table id='b2xvc'><blockquote id='b2xvc'><tbody id='b2xvc'></tbody></blockquote></table></option></ol><u id='b2xvc'></u><kbd id='b2xvc'><kbd id='b2xvc'></kbd></kbd>
