Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标(biao)准。
适用范围:
适用于各种(zhong)封装形式的二(er)极管(guan)、三极管(guan)、场(chang)效应管(guan)、可控硅、IGBT单管(guan)等器件进(jin)行高温反偏(pian)试(shi)验(HTRB)。
技术特点:
实时(shi)监(jian)测每个试验器件的漏电流。
全(quan)过程试(shi)验数据保存于(yu)硬盘中，可输出(chu)Excel
试验报表和绘制全(quan)过程漏电(dian)流IR变化曲线。
