Product Demonstration
符合标准:
MIL-STD-750D、GJB128等试(shi)验标准。
适用范围:
适用于(yu)各种封装(zhuang)形式的中、小(xiao)功(gong)率二极管(guan)、三极管(guan)、场效应管(guan)、可控硅、集成稳压(ya)器、光电耦合(he)器、电阻等等元器件的稳态(tai)寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）。
技术特点:
适用范(fan)围(wei)广(guang)，可满足多(duo)种分立元(yuan)器件的常温(wen)寿命(ming)老化。
具有(you)手动、自动加电模式。
