Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准(zhun)。
适用范围:
适(shi)用于(yu)各种封装(zhuang)数字、模(mo)拟、数模(mo)混合(he)电(dian)路(lu)进行高温动态老化(hua)试(shi)验。
技术特点:
一板一区，可(ke)满(man)足多种(zhong)不同试验参数的器件同时老化。
完善的(de)、种类齐(qi)全的(de)老化(hua)器(qi)件数(shu)据库(ku)可供用户调用。
64路回检信号(hao)，可设置回检通道信号(hao)出错依(yi)据，并判断该通道信号(hao)是否正常。
