Product Demonstration
符合标准：
AEC-Q100, MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548.GJB597等试(shi)验(yan)标准。
适用范围：
适(shi)用(yong)于(yu)各种封装形式的(de)大、中、小规模(mo)数字、模(mo)拟、数模(mo)混合集成电(dian)路,包括微处理器(qi)、逻辑电(dian)路、可编程器(qi)件(jian)、存储器(qi)、A/D、D/A等器(qi)件(jian)的(de)工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
技术特点：
—板—区,可满足多种(zhong)同试验参数的器件同时(shi)老化。
强大(da)的(de)图形发生系统,64路(lu)数字和4路(lu)模(mo)拟(ni)可编(bian)程(cheng)信号(hao)。
可回检输(shu)入或输(shu)出波形的频率或幅度。
