Product Demonstration
符合标准:
AEC-Q101、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等标准。
适用范围:
适用于各种封装(zhuang)形式的二(er)极管、三极管、场效应管、可控(kong)硅、IGBT单管等器件进行高温反偏试验(HTRB)和高温漏(lou)流测试（HTIR）。
技术特点:
可实(shi)时监测每个(ge)的结温TJ。
实(shi)时监测每个(ge)试验器件的漏(lou)电流(liu)。
全(quan)过(guo)程试验数据保存于硬(ying)盘中，可输出(chu)Excel试验报表和(he)绘制全(quan)过(guo)程漏(lou)电流IR变化曲(qu)线(xian)。
