符合标准:
AEC-Q100，MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验(yan)标准。
适用范围:
适用于各种封装数字、模(mo)拟、数模(mo)混合电路进行高温动态老化试(shi)验。
技术特点:
一板一区(qu)，可满足多种(zhong)不(bu)同试(shi)验参数的器件(jian)同时老化。
完善的、种(zhong)类齐全的老化器件(jian)数据库可供用(yong)户(hu)调用(yong)。
64路回(hui)(hui)检信号，可设置回(hui)(hui)检通道信号出错依据，并判断该(gai)通道信号是否正常。