符合标准：
AEC-Q100, MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548.GJB597等试(shi)验标准。
适用范围：
适用(yong)于各种封(feng)装形式(shi)的人、中、小规(gui)模数字、模拟、数模混合集成电路,包(bao)括(kuo)微处理器(qi)、逻辑电路、可(ke)编程器(qi)件、存储(chu)器(qi)、A/D、D/A等器(qi)件的工(gong)作寿(shou)命(ming)试(shi)验和高温(wen)动态老炼筛选。
技术特点：
—板—区(qu),可满(man)足多种同试验参数的(de)器(qi)件(jian)同时老化(hua)。
强人的图形(xing)发生系统(tong),64路(lu)数字和(he)4路(lu)模拟可编程(cheng)信号。
可回检输入或输出(chu)波形的(de)频率(lv)或幅度。